Aline Creuz, M.Eng.
Siemens AG, Technology / TU Hamburg

Nach ihrem Bachelor- und Masterstudium der Physikalischen Technik – Medizinphysik an der Beuth Hochschule für Technik sowie einer einjährigen wissenschaftlichen Vertiefung an der Technischen Universität Hamburg schloss Aline Creuz eine Promotion (seit November 2018) mit dem Schwerpunkt der Analyse mittels ColdSpray „gedruckter“ 3D Kupferstrukturen bei der Siemens AG in Berlin in Kooperation mit der Technischen Universität Hamburg sowie der Beuth Hochschule für Technik an. In ihrer Bachelor-Abschlussarbeit beschäftigte sie sich mit den Möglichkeiten und Grenzen der Nanofokus-Computertomographie zur korrekten Geometrieermittlung von Dieselinjektoren, wohingegen ihre Master-Abschlussarbeit das Design und den Aufbau eines Ultrakondensators basierend auf porösen Festkörperstrukturen beinhaltete. Während ihres Studiums sammelte sie im Rahmen ihres studentischen Hilfsjobs am Frauenhofer IKTS in Berlin Erfahrungen im Bereich der Bilddatenauswertung verschiedener zerstörungsfreier Prüfungsmethoden, wie Computertomographie, Laminographie und Ultraschall. Durch ihre aktuelle Mitarbeit bei der Siemens AG beschäftigt sich Aline Creuz zudem mit Programmierung von 6-Achs Industrierobotern. Seit dem Sommersemester 2020 ist sie im Studiengang Physikalische Technik – Medizinphysik, Fachbereich II der Beuth Hochschule, als Lehrbeauftragte tätig.


Prof. Dr. Astrid Haibel

Astrid Haibel ist seit 2011 Professorin für Physik an der Beuth Hochschule für Technik Berlin. Zu ihren Kernkompetenzen gehört die Forschung auf dem Gebiet der bildgebenden Verfahren, insbesondere der tomographischen Methoden sowie der darauf aufbauenden quantitativen Analytik. Vor Ihrem Ruf an die Beuth Hochschule arbeitete sie 10 Jahre auf dem Forschungsgebiet der höchstaufgelösten tomographischen Analytik an verschiedenen Synchrotron-Quellen, von 2002-2007 in enger Zusammenarbeit mit der BAM am Berliner Synchrotron BESSY und von 2007-2011 als Projektleiterin zuständig für Design, Aufbau und Nutzerbetrieb der hochauflösenden Imaging Beamline (IBL) sowie aller angegliederten Labore am Synchrotron-Speicherring PETRA III (DESY) in Hamburg. Forschungsschwerpunkte bildeten zum einen die Beantwortung von Fragestelllungen der Werkstoff- und Prozessentwicklung (Energiespeicher, Leichtbau, Bionik) als auch die Optimierung und Weiterentwicklung der etablierten tomographischen Messverfahren sowie die Entwicklung und Anwendung umfangreicher 3D-Bildanalysemethoden.


Prof. Dr. Patrick Huber
TU Hamburg / DESY Lehrstuhl für Physik und hochauflösende Röntgenanalytik der Werkstoffe

Patrick Huber studierte Physik an der Universität des Saarlandes und promovierte dort 1999. Von 1999 bis 2001 arbeitete er im Rahmen eines Forschungsstipendiums der DFG in der Arbeitsgruppe von Peter Pershan im Physik-Department der Harvard University. Dort untersuchte er die atomaren Struktur und Dynamik von flüssigen Metallen mit Hilfe von Synchrotron-basierter Röntgenbeugung. Im Jahre 2011 wurde Patrick Huber als Professor in das Physik-Department der Päpstlich Katholischen Universität von Chile in Santiago berufen. Im Jahre 2012 folgte er einem Ruf auf eine Professur für Materialphysik an die Technische Universität Hamburg (TUHH). Er hat aktuell den Lehrstuhl für die Physik der Funktionswerkstoffe im "Center for Integrated Multiscale Materials Systems" der TUHH inne und verantwortet zugleich den Bereich "High-Resolution X-Ray Analytics" am Deutschen Elektronensynchrotron DESY. Er ist Autor und Mitautor von ca. 100 Veröffentlichungen in Fachzeitschriften und Büchern im Themenbereich der Physik kondensierter Materie und hat einen h-Zitierindex von 31 (Stand November 2018).


Prof. Dr. Rainer Schneider

Rainer Schneider ist seit 2016 Professor für Physik an der Beuth Hochschule für Technik. Seine fachlichen Schwerpunkte liegen auf den Gebieten der Werkstoffforschung, der zugehörigen Analytik sowie der zerstörungsfreien Prüfung. Ein besonderer Fokus liegt hierbei auf der modellbasierten, quantitativen, statistisch korrekten Analyse großer Datenmengen, wie sie beispielsweise in der 3D-Bildgebung (Röntgen sowie Magnetresonanztomographie, Ultraschall-, IR und Terahertz-Bildgebung) oder bei der diffusen Diffraktion an kurzreichweitig geordneten Strukturen anfallen. Weitere Informationen: CV